Studie odhalila zvýšené riziko nádorů mozku u dětí vystavených vyšším úrovním magnetického pole Nová recenzovaná studie zjistila, že u dětí vystavených zvýšeným úrovním magnetických polí extrémně nízké frekvence (ELF-MF) je riziko vzniku nádorů centrálního nervového systému více než dvojnásobné. Výzkum, který byl publikován v časopise Environmental Research, sledoval 200 dětí s diagnostikovanými nádory tohoto typu a porovnával je s téměř 800 zdravými dětmi. Vědci měřili záření ELF-MF v dětských ložnicích po dobu 24 hodin, aby zachytili reálnou denní expozici v prostředí. Výsledky naznačily, že děti vystavené úrovním nad 0,4 mikrotesly čelily výrazně zvýšenému riziku. Více než 5 % dětí ve studii již žilo v prostředí s úrovněmi ELF-MF přesahujícími 0,3 mikrotesly, což je úroveň, která převyšuje expozici zaznamenanou u většiny ostatních studovaných populací. Podle studie bylo dlouhodobé používání tablet, i bez aktivního připojení k internetu, spojeno se zvýšením rizika až o 253 %. Zdrojem tohoto záření jsou mimo jiné domácí elektroinstalace, elektrické vedení a běžná elektrická zařízení.
- ID Cislo
- 16613
- Nadpis
- Studie odhalila zvýšené riziko nádorů mozku u dětí vystavených vyšším úrovním magnetického pole
- Url
- https://www.naturalnews.com/2026-03-21-study-childhood-exposure-magnetic-fields-brain-tumor.html
- Text
Studie odhalila zvýšené riziko nádorů mozku u dětí vystavených vyšším úrovním magnetického pole
Nová recenzovaná studie zjistila, že u dětí vystavených zvýšeným úrovním magnetických polí extrémně nízké frekvence (ELF-MF) je riziko vzniku nádorů centrálního nervového systému více než dvojnásobné. Výzkum, který byl publikován v časopise Environmental Research, sledoval 200 dětí s diagnostikovanými nádory tohoto typu a porovnával je s téměř 800 zdravými dětmi. Vědci měřili záření ELF-MF v dětských ložnicích po dobu 24 hodin, aby zachytili reálnou denní expozici v prostředí. Výsledky naznačily, že děti vystavené úrovním nad 0,4 mikrotesly čelily výrazně zvýšenému riziku. Více než 5 % dětí ve studii již žilo v prostředí s úrovněmi ELF-MF přesahujícími 0,3 mikrotesly, což je úroveň, která převyšuje expozici zaznamenanou u většiny ostatních studovaných populací. Podle studie bylo dlouhodobé používání tablet, i bez aktivního připojení k internetu, spojeno se zvýšením rizika až o 253 %. Zdrojem tohoto záření jsou mimo jiné domácí elektroinstalace, elektrické vedení a běžná elektrická zařízení.- Kategorie